校準證書(shu) 將報告執行校準時的結果。 在許多情況下，負責人員將假設校準有效期為(wei) 一年。 這將得到錯誤的結論，即一年的校準間隔已足夠。理想情況下，校準間隔根據基於(yu) 風險的方法來確定，例如，某些方麵出錯的概率是多少以及影響有多大？ 影響大和概率高與(yu) 高風險相對應，這樣就需要更短的校準間隔。 反之，影響小和概率低則意味著低風險，從(cong) 而可延長間隔。放棄校準是高風險策略。 與(yu) 未經校準的電子天平或秤相關(guan) 聯的隱藏成本和風險可能遠高於(yu) 校準成本自身。
使用未經校準的電子天平會(hui) 導致生產(chan) 問題，
比如：
計劃外停產(chan)
產(chan) 品質量降低
過程和審核問題
產(chan) 品返工和召回
環境變化也會(hui) 導致未檢測到的偏移或增加導致性能降低的隨機錯誤數。 定期按計劃校準並執行日常測試是降低與(yu) 校準相關(guan) 的風險的有佳方法。
